A critical evaluation based on Lattice Boltzmann method of nanoscale thermal behavior inside MOSFET and SOI-MOSFET
Oussama Zobiri، Abdelmalek Atia، Müslüm Arıcı
عبد المالك عطية
Abdelmalek Atiaأستاذ التعليم العالي
32
المُخرَجات
742
الاستشهادات
14
مؤشّر h
قيّم هذا الباحثلا تقييم بعد
يظهر المعدّل بعد 3 تقييمات.